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          pulstec/s-Laue X射線單晶取向測量裝置特征?

          更新時間:2023-11-23      瀏覽次數:439

          特征如下:

          Laue 相機節省空間且易于操作。

          可以高速獲取單晶材料的 X 射線衍射(勞厄斑)圖像。

          這是一種桌面型,結合了風冷式 X 射線發生器和高靈敏度探測器。

          X 射線垂直向下入射,因此可以輕松設置樣品。

          使用顯微鏡可以進行精確對準。

          緊湊輕便,節省空間。


          使用示例

          主平面方向的測量

          檢查并調整切割方向

          結晶度評價

          晶體生長、加工相關

          半導體器件制造和開發

          用途/特長:

          方位·調整確認結晶

          空冷·通過小型化節省空間

          結晶性的評價

          測定簡單操作·高速


          X射線單晶方位測定裝置s-Laue

          桌面型任何人簡單測量

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