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產(chǎn)品分類產(chǎn)品中心/ products
產(chǎn)品型號(hào)：S3500
更新時(shí)間：2024-11-06簡要描述：美國microtrac粒徑分析儀S3500 是第一個(gè)使用三個(gè)精確放置的紅色激光二極管來精確描述顆粒的粒度分析儀，專的利的三激光系統(tǒng)為各種應(yīng)用提供了精確，可靠和可重復(fù)的粒度分析，利用已證明的理論的Mie補(bǔ)償球形粒子和專的利原理的改進(jìn)的Mie計(jì)算非球形粒子。S3500測量的粒度從0.02到2800µm性能指標(biāo)
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,能源,電子/電池,綜合 |
美國microtrac粒徑分析儀S3500
是第一個(gè)使用三個(gè)精確放置的紅色激光二極管來精確描述顆粒的粒度分析儀，專的利的三激光系統(tǒng)為各種應(yīng)用提供了精確，可靠和可重復(fù)的粒度分析，利用已證明的理論的Mie補(bǔ)償球形粒子和專的利原理的改進(jìn)的Mie計(jì)算非球形粒子。S3500測量的粒度從0.02到2800µm
性能指標(biāo)
1.三激光，紅色，多探測器，多角度光學(xué)系統(tǒng)
2.對(duì)非球形粒子采用米氏補(bǔ)償和修正米氏計(jì)算的算法
3.測量范圍從0.02到2800µm
4.干濕法測量
5.封閉的光路確保光學(xué)元件的完的全保護(hù)，很少或沒6.6有操作員干預(yù)
優(yōu)點(diǎn)
1.利用三種紅色激光器，增加了測量范圍，為您提供了對(duì)廣泛樣本進(jìn)行分析的靈活性
2.專的利改進(jìn)的Mie計(jì)算允許用戶精確測量復(fù)雜的粒子，而其他粒子分析儀很難準(zhǔn)確地描述
3.從濕測量到干測量的無縫過渡減少了停機(jī)時(shí)間
4.固定探測器堅(jiān)固耐用，并確保正確的定位
5.設(shè)備占地空間小，節(jié)省實(shí)驗(yàn)室的寶貴空間
美國microtrac粒徑分析儀S3500
是第一個(gè)使用三個(gè)精確放置的紅色激光二極管來精確描述顆粒的粒度分析儀，專的利的三激光系統(tǒng)為各種應(yīng)用提供了精確，可靠和可重復(fù)的粒度分析，利用已證明的理論的Mie補(bǔ)償球形粒子和專的利原理的改進(jìn)的Mie計(jì)算非球形粒子。S3500測量的粒度從0.02到2800µm
性能指標(biāo)
1.三激光，紅色，多探測器，多角度光學(xué)系統(tǒng)
2.對(duì)非球形粒子采用米氏補(bǔ)償和修正米氏計(jì)算的算法
3.測量范圍從0.02到2800µm
4.干濕法測量
5.封閉的光路確保光學(xué)元件的完的全保護(hù)，很少或沒6.6有操作員干預(yù)
優(yōu)點(diǎn)
1.利用三種紅色激光器，增加了測量范圍，為您提供了對(duì)廣泛樣本進(jìn)行分析的靈活性
2.專的利改進(jìn)的Mie計(jì)算允許用戶精確測量復(fù)雜的粒子，而其他粒子分析儀很難準(zhǔn)確地描述
3.從濕測量到干測量的無縫過渡減少了停機(jī)時(shí)間
4.固定探測器堅(jiān)固耐用，并確保正確的定位
5.設(shè)備占地空間小，節(jié)省實(shí)驗(yàn)室的寶貴空間
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