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          日本pulstec透明體厚度/波紋度測量儀

          • 產品型號:HM-1000
          • 更新時間:2024-11-07

          簡要描述:日本pulstec透明體厚度/波紋度測量儀HM-1000
          特征
          這是一種應用OCT(光學相干斷層掃描)技術的用于玻璃等透明物體的無損斷層測量設備。
          1.最多可檢測8層厚度。
          2.測量范圍為20μm至17mm,重復性為2μm。
          3.測量速度快(250次/秒),可進行高精度測量。
          4.即使對于具有曲面或特殊形狀的物體,我們也可以提出最佳系統。

          產品詳情
          品牌其他品牌產地類別進口
          應用領域環保,化工,能源,電子/電池,綜合

          日本pulstec透明體厚度/波紋度測量儀HM-1000 

          特征

          這是一種應用OCT(光學相干斷層掃描)技術的用于玻璃等透明物體的無損斷層測量設備。

          1.最多可檢測8層厚度。

          2.測量范圍為20μm至17mm,重復性為2μm。

          3.測量速度快(250次/秒),可進行高精度測量。

          4.即使對于具有曲面或特殊形狀的物體,我們也可以提出最佳系統。

          使用示例

          1.透明樹脂板和薄膜的厚度和波紋度測量

          2.平板顯示器玻璃層、樹脂層、粘合層厚度測量

          3.測量透明管內徑

          4.鏡片厚度測量

          日本pulstec透明體厚度/波紋度測量儀HM-1000 

          特征

          這是一種應用OCT(光學相干斷層掃描)技術的用于玻璃等透明物體的無損斷層測量設備。

          1.最多可檢測8層厚度。

          2.測量范圍為20μm至17mm,重復性為2μm。

          3.測量速度快(250次/秒),可進行高精度測量。

          4.即使對于具有曲面或特殊形狀的物體,我們也可以提出最佳系統。

          使用示例

          1.透明樹脂板和薄膜的厚度和波紋度測量

          2.平板顯示器玻璃層、樹脂層、粘合層厚度測量

          3.測量透明管內徑

          4.鏡片厚度測量

          特征

          這是一種應用OCT(光學相干斷層掃描)技術的用于玻璃等透明物體的無損斷層測量設備。

          1.最多可檢測8層厚度。

          2.測量范圍為20μm至17mm,重復性為2μm。

          3.測量速度快(250次/秒),可進行高精度測量。

          4.即使對于具有曲面或特殊形狀的物體,我們也可以提出最佳系統。

          使用示例

          1.透明樹脂板和薄膜的厚度和波紋度測量

          2.平板顯示器玻璃層、樹脂層、粘合層厚度測量

          3.測量透明管內徑

          4.鏡片厚度測量

          日本pulstec透明體厚度/波紋度測量儀


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