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          日本mitakakohki半導體非接觸式三維測量裝置NH-3SPs的介紹

          更新時間:2024-08-24      瀏覽次數:489

          日本mitakakohki半導體非接觸式三維測量裝置NH-3SPs的介紹

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          可處理大型工件的

          非接觸式3D測量裝置

          NH系列實現了高精度和易用性,

          解決了過去的測量問題。


          ?可在不損壞測量對象的情況下進行測量

          ?擅長測量陡峭的斜坡和大的凹凸不平

          ?直接測量鏡面和透鏡等透明物體

          特征

          1.非接觸式測量可防止探頭磨損

          由于不存在非接觸式探頭磨損等連續變化,因此日常維護也更加容易。

          2.可觀察測量點

          始終可以觀察到測量點和工件表面的激光光斑。圖像處理可實現邊緣檢測和圓測量。

          3.高精度、高剛性XY平臺

          NH系列XY平臺基于“高精度識別=堅固機構"的理念,經過精心加工和一一檢驗,實現高精度運行平行度。

          4.出色的角度跟蹤

          高靈敏度自動對焦傳感器可捕獲表面的輕微反射光。能夠直接精確測量陡坡和臺階。


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