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          suragus用于單點測量的非接觸式薄層電阻和層厚測量設備EddyCus lab 2020

          更新時間:2024-04-02      瀏覽次數:349

          EddyCus lab 2020系列–用于單點測量的非接觸式薄層電阻和層厚測量設備

          艾迪庫斯實驗室2020 系列允許以非接觸模式手動單點測量導電薄膜和薄金屬層的厚度。緊湊型臺式設備非常適合快速準確地測量最大尺寸為200 x 200毫米(8 x 8英寸)的樣品。除了測量薄導電層之外,還可以分析摻雜晶片和導電聚合物。

          突出

          • 非接觸式實時測量
          • 導電薄膜的精確測量
          • 隱藏和封裝導電層的表征
          • 測量數據保存和導出功能



          特征

          • 薄層電阻
          • 金屬層厚度測量
          • 單點測量
          • 質量控制、輸入和輸出控制
          • 樣本尺寸:10 x 10毫米至200 x 200毫米(0.5 x 0.5英寸至8 x 8英寸)
          • 測量范圍:0.1歐姆/平方至10萬歐姆/平方

          應用程序

          • 涂層建筑玻璃,如勞
          • 顯示器、觸摸屏和平板顯示器
          • 有機發光二極管和LED應用
          • 智能玻璃
          • 石墨烯層
          • 光伏晶片和電池
          • 半導體晶片
          • 金屬化層和晶片金屬化
          • 除冰和加熱應用
          • 電池電極
          • 導電涂布紙和導電紡織品



          突出

          • 非接觸式實時測量
          • 導電薄膜的精確測量
          • 突出

          • 非接觸式實時測量
          • 導電薄膜的精確測量
          • 隱藏和封裝導電層的表征
          • 測量數據保存和導出功能
          • 隱藏和封裝導電層的表征
          • 測量數據保存和導出功能


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