技術文章/ article
          
        
           您的位置：首頁  -  技術文章  -  ae-mic/AE-162E 用于超高速芯片電阻測試特征？ 
          
        
          
      
          
      
          
        
          
          
          
            
          ae-mic/AE-162E 用于超高速芯片電阻測試特征？
          
            
          更新時間：2023-12-06      瀏覽次數：380
          
          
          
          
        
          
        
           
          AE-162E 用于超高速芯片電阻測試
          非常適合 D、F、G、J、K 級、片式、MELF、
          徑向和軸向電阻器的分選機和編帶機。
          兼容極小芯片（低功耗測量）
          超高速0.7msec.（典型值）
          熱電動勢抵消測量帶來高精度和穩定性
          通過每個量程的測量值積分時間設置功能，實現超高速和高穩定性測量。
          %測量：±99.99% [5mΩ ~ 109MΩ]
          絕對測量：0.00mΩ~200.00MΩ
          接觸檢查：測量前/測量后/關閉可選
          RS-232C接口標準設備（GP-IB可選）
          打印機輸出標準設備（Centronics兼容）
          標準設置值傳輸功能：（相同的設置數據可以傳輸到另一臺AE-162E以進行自動設置。）
          標準配備測量電流/測量電壓異常檢查電路
          兼容極小芯片（低功耗測量）
          超高速0.7msec.（典型值）
          熱電動勢抵消測量帶來高精度和穩定性
          通過每個量程的測量值積分時間設置功能，實現超高速和高穩定性測量。
          %測量：±99.99% [5mΩ ~ 109MΩ]
          絕對測量：0.00mΩ~200.00MΩ
          接觸檢查：測量前/測量后/關閉可選
          RS-232C接口標準設備（GP-IB可選）
          打印機輸出標準設備（Centronics兼容）
          標準設置值傳輸功能：（相同的設置數據可以傳輸到另一臺AE-162E以進行自動設置。）
          標準配備測量電流/測量電壓異常檢查電路

           
          
        
      
          
    
          
  
          

          


          
  
          
    
          
      
           
        
          公司簡介  >  在線留言  >  聯系我們  >  
          
      
          
      
          
        
          
          
          產品中心
          
            
                
          儀器
          
               
                
          推薦產品
          
             
        
          
      
          
      
          
        
          CONTACT
          
        EMAIL：jiuzhou_dr@163.com 
          
      
            掃碼微信聯系 
          
      
          
    
          
    
           版權所有©2025 深圳九州工業品有限公司 All Rights Reserved   備案號：粵ICP備2023038974號   sitemap.xml技術支持：化工儀器網   管理登陸