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          napson/EC-80P(便攜式) 手持式電阻率、方電阻無損測量儀(渦流法)

          更新時間:2023-09-04      瀏覽次數:460

          產品特點及功能

          只需觸摸手持式探頭即可測量電阻

          • 在電阻率和方塊電阻測量模式之間輕松切換

          • 通過 JOG 旋鈕進行簡單的測量條件設置

          • 可更換連接器連接的電阻測量探頭以支持寬范圍的電阻(電阻探頭:最多可使用 2 + PN 確定探頭)

          測量對象

          • 半導體及太陽能電池材料(硅、多晶硅、SiC等)

          • 新材料/功能材料(碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等)

          • 導電薄膜相關(金屬、ITO等)

          • 化合物半導體相關(GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等)

          • 其他(*請聯系我們)

          目標尺寸

          無論樣品的大小和形狀如何,都可以進行測量(但是,直徑大于 20 mm 且平坦表面暴露的樣品)

          測量范圍

          [電阻率] 1m 至 200Ω cm
          (*所有探頭類型的總范圍/厚度為 500um 時)
          [表面電阻] 10m 至 3kΩ/sq
          (*所有探頭類型的總范圍)

          產品尺寸

          • 機身:W255×D275×H95mm,4kg

          • 探頭部分:20mmΦ×80mm


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